當電感性負載（磁體、繼電器、電磁器）切斷時，會產(chǎn)生數(shù)千伏的反電動勢，導致無接點輸出輸出元件的損壞和接點輸出接點表面粗糙造成的接觸不良現(xiàn)象。作為其對策，應嘗試并聯(lián)反電動勢吸收元件（CR、非線性電阻、二極管）。
1.使用初始故障。
以光電開關(guān)、接近開關(guān)等為主體的檢測開關(guān)，半導體在使用初期一般會出現(xiàn)故障。
原因是在電路中使用的半導體在制造過程中受到各種應力影響，在使用開始后的短時間內(nèi)造成損壞；此外，功率低于半導體的電阻和電容也是使用初始故障的原因。初始故障的發(fā)生時間因制造方法的不同而不同。它不能一概而論。它通常發(fā)生在使用開始后的一周到10天內(nèi)。
2.意外故障。
包括半導體部件故障、電阻、電容斷線、短路、容量不足、電路板斷路、焊接材料等不良現(xiàn)象，但發(fā)生率很低。當接近開關(guān)經(jīng)常發(fā)生故障時，可以考慮使用環(huán)境問題，請咨詢制造商。
3.負載短路及配線錯誤。
當配線錯誤或帶電操作導致負荷短路時，大電流流向檢測開關(guān)，輸出電路燒毀。作為檢測開關(guān)外的保護對策，可采用切斷快速保險絲短路電流的方法，通過保險絲進行保護，既能保護負荷短路，又能保護地線。但由于開關(guān)內(nèi)輸出晶體管殘余容量小，不能達到100[%]的效果。
4.干擾波造成的損壞。
干擾波造成的損壞是緩慢形成的，因此在開始使用后的一個月或兩三個月后損壞是非常常見的。因此，在此期間損壞的原因可以判斷為干擾波。電感負載開關(guān)時檢測開關(guān)的瞬時錯誤動作是由干擾波引起的。
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